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        JPS-9030型X射線光電子能譜儀

        X射線光電子能譜儀用于樣品表層元素及價態分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等

        • 型號: JPS-9030

        X射線光電子能譜儀

        型號:JPS-9030

        品牌:日本電子

        產地:日本

        制造商:日本電子

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        • X 射線光電子能譜(XPS)是材料科學和發展的領域中最廣泛使用的表面分析技術。其原理是利用X射線束(一般會使鋁陽極或鎂陽極)作為入射源,照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發出。根據測得的光電子所發出的電子動能,再依照能量守恒定律就可以知道電子的結合能,從而也就可知道樣品表面是何物質。

        • 功能用途:樣品表層元素及價態分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等

        • 技術特點:具有多種非單色化及單色化的X射線源,大功率羅蘭圓提供更高的分析及能量分辨率,兼具Ar離子或Ar原子團簇模式刻蝕及紫外光電子能譜(UPS)測試等可選附件。


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